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招標(biāo)項目編號：0862-254HNZJC0005
項目名稱：半導(dǎo)體缺陷檢測設(shè)備
項目名稱（英文）：Semiconductor defect detection equipment
招標(biāo)機(jī)構(gòu)：中技建設(shè)咨詢
招標(biāo)方式：公開招標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果：重新招標(biāo)
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