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招標(biāo)項(xiàng)目編號(hào)：0862-254HNZJC0005
項(xiàng)目名稱：半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備
項(xiàng)目名稱（英文）：Semiconductor defect detection equipment
招標(biāo)機(jī)構(gòu)：中技建設(shè)咨詢
招標(biāo)方式：公開招標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果：重新招標(biāo)
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